Technologie & oplossingen

Technologie & oplossingen

01-03 VETEK | Belangrijke statistieken voor CVD SiC-laagdikte-uniformiteit en deeltjesbeheersing
05

01-03 VETEK | Belangrijke statistieken voor CVD SiC-laagdikte-uniformiteit en deeltjesbeheersing

Nadat het materiaal is geselecteerd, zijn kwantificeerbare meetgegevens zoals dikte-uniformiteit, deeltjesniveau en zuiverheid vaak bepalend voor de prestaties van het gereedschap. Dit artikel organiseert de belangrijkste kwaliteitsdimensies van CVD SiC-coating wat betreft acceptatie en gebruik, waardoor de overgang ontstaat van “de specificatie komt overeen” naar “het rapport kan worden gecontroleerd en er kan worden geanticipeerd op risico’s.
Bekijk meer
01-02 VETEK | Hoe u SiC-coating, TaC-coating of vast SiC selecteert op basis van procesomstandigheden
06

01-02 VETEK | Hoe u SiC-coating, TaC-coating of vast SiC selecteert op basis van procesomstandigheden

Dit artikel schetst de toepassingsgrenzen en typische scenario's van CVD SiC-coating, TaC-coating en Solid SiC op basis van temperatuur, atmosfeer en procestype, waardoor epitaxie- en etsingenieurs de procesvensters tijdens de selectie snel op één lijn kunnen brengen en deeltjes- en levensduurrisico's als gevolg van een verkeerde combinatie van materiaal en conditie kunnen vermijden.
Bekijk meer
01-01 VTEEK | Compatibiliteit met grafiet susceptor en 1:1 aangepaste vervangingsoplossingen
07

01-01 VTEEK | Compatibiliteit met grafiet susceptor en 1:1 aangepaste vervangingsoplossingen

Compatibiliteits- en vervangingsoplossingen voor Aixtron G10-, Veeco-, ASM-susceptors en voorverwarmingsringen. Ondersteunt 1:1 op tekeningen gebaseerde aanpassingen, snelle verzending voor standaardonderdelen, 3-6 weken voor aangepaste onderdelen, met inspectierapporten en monsterevaluatie.
Bekijk meer
01 Prestatiegrenzen van CVD SiC, TaC en vast SiC in epitaxie- en etsprocessen
08

01 Prestatiegrenzen van CVD SiC, TaC en vast SiC in epitaxie- en etsprocessen

Door de juiste CVD SiC-, TaC-coating of Solid SiC te selecteren, worden de deeltjesniveaus en de levensduur van componenten op epitaxie-/etslijnen direct bepaald. Dit artikel biedt duidelijke selectiegrenzen op basis van temperatuur, atmosfeer en proces, gecombineerd met belangrijke oplossingen voor vervanging van apparatuur en belangrijke meetgegevens, zodat u snel beslissingen kunt nemen en risico's kunt verminderen.
Bekijk meer
X
We gebruiken cookies om u een betere browse-ervaring te bieden, het siteverkeer te analyseren en de inhoud te personaliseren. Door deze site te gebruiken, gaat u akkoord met ons gebruik van cookies. Privacybeleid
AfwijzenAccepteren