Producten
Op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor
  • Op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptorOp silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor

Op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor

De op silicium gebaseerde GaN epitaxiale Susceptor is het kernonderdeel dat nodig is voor de GaN epitaxiale productie. Veteksemicon op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor is speciaal ontworpen voor op silicium gebaseerd GaN epitaxiaal reactorsysteem, met voordelen zoals hoge zuiverheid, uitstekende weerstand tegen hoge temperaturen en corrosieweerstand. Stem in met uw verder overleg.

Vetekseicon's op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor is een sleutelcomponent in VEECO's K465i GaN MOCVD-systeem voor het ondersteunen en verwarmen van het siliciumsubstraat van het GaN-materiaal tijdens epitaxiale groei. Bovendien maakt ons GaN op silicium epitaxiaal substraat gebruik van hoge zuiverheid,hoogwaardig grafietmateriaalals substraat, dat zorgt voor goede stabiliteit en thermische geleidbaarheid tijdens het epitaxiale groeiproces. Het substraat is bestand tegen omgevingen met hoge temperaturen, waardoor de stabiliteit en betrouwbaarheid van het epitaxiale groeiproces wordt gegarandeerd.


GaN Epitaxial Susceptor

Ⅰ. Sleutelrollen bijEpitaxiaal proces


(1) Zorg voor een stabiel platform voor epitaxiale groei


Bij het MOCVD-proces worden epitaxiale GaN-lagen bij hoge temperaturen (>1000°C) op siliciumsubstraten afgezet en is de Susceptor verantwoordelijk voor het dragen van de siliciumwafels en het garanderen van temperatuurstabiliteit tijdens de groei.


De op silicium gebaseerde Susceptor maakt gebruik van een materiaal dat compatibel is met het Si-substraat, waardoor het risico op kromtrekken en barsten van de GaN-op-Si epitaxiale laag wordt verminderd door de spanningen te minimaliseren die worden veroorzaakt door niet-overeenkomende thermische uitzettingscoëfficiënten (CTE).




silicon substrate

(2) Optimaliseer de warmteverdeling om epitaxiale uniformiteit te garanderen


Omdat de temperatuurverdeling in de MOCVD-reactiekamer rechtstreeks van invloed is op de kwaliteit van GaN-kristallisatie, kan SiC-coating de thermische geleidbaarheid verbeteren, temperatuurgradiëntveranderingen verminderen en de epitaxiale laagdikte en doteringsuniformiteit optimaliseren.


Het gebruik van SiC met hoge thermische geleidbaarheid of siliciumsubstraat met hoge zuiverheid helpt de thermische stabiliteit te verbeteren en de vorming van hotspots te voorkomen, waardoor de opbrengst aan epitaxiale wafels effectief wordt verbeterd.







(3) Optimalisatie van de gasstroom en vermindering van vervuiling



Laminaire stroomregeling: Gewoonlijk kan het geometrische ontwerp van de susceptor (zoals de vlakheid van het oppervlak) het stroompatroon van het reactiegas rechtstreeks beïnvloeden. De Susceptor van Semixlab vermindert bijvoorbeeld turbulentie door het ontwerp te optimaliseren om ervoor te zorgen dat het precursorgas (zoals TMGa, NH3) het wafeloppervlak gelijkmatig bedekt, waardoor de uniformiteit van de epitaxiale laag aanzienlijk wordt verbeterd.


Voorkomen van diffusie van onzuiverheden: Gecombineerd met het uitstekende thermische beheer en de corrosieweerstand van Silicon Carbide Coating, kan onze siliciumcarbide coating met hoge dichtheid voorkomen dat onzuiverheden in het grafietsubstraat in de epitaxiale laag diffunderen, waardoor verslechtering van de prestaties van het apparaat door koolstofverontreiniging wordt voorkomen.



Ⅱ. Fysische eigenschappen vanIsostatisch grafiet

Fysische eigenschappen van isostatisch grafiet
Eigendom Eenheid Typische waarde
Bulkdichtheid g/cm³ 1.83
Hardheid HSD 58
Elektrische weerstand μΩ.m 10
Buigsterkte MPa 47
Druksterkte MPa 103
Treksterkte MPa 31
Young-modulus GPa 11.8
Thermische uitzetting (CTE) 10-6K-1 4.6
Thermische geleidbaarheid W·m-1·K-1 130
Gemiddelde korrelgrootte urn 8-10
Porositeit % 10
Asinhoud ppm ≤10 (na gezuiverd)



Ⅲ. Op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor Fysieke eigenschappen:

Fundamentele fysieke eigenschappen vanCVD SiC-coating
Eigendom Typische waarde
Kristalstructuur FCC β-fase polykristallijn, voornamelijk (111) georiënteerd
Dikte 3,21 g/cm³
Hardheid 2500 Vickers-hardheid (500 g belasting)
Korrelgrootte 2~10urn
Chemische zuiverheid 99,99995%
Warmtecapaciteit 640 J·kg-1·K-1
Sublimatie temperatuur 2700℃
Buigsterkte 415 MPa RT 4-punts
Young-modulus 430 Gpa 4pt bocht, 1300℃
Thermische geleidbaarheid 300W·m-1·K-1
Thermische uitzetting (CTE) 4,5×10-6K-1

        Opmerking: vóór het coaten zullen we de eerste zuivering uitvoeren, na het coaten zullen we de tweede zuivering uitvoeren.


Hottags: Op silicium gebaseerde GaN epitaxiale susceptor
Stuur onderzoek
Contact informatie
Voor vragen over siliciumcarbidecoating, tantaalcarbidecoating, speciaal grafiet of een prijslijst kunt u uw e-mailadres achterlaten en wij nemen binnen 24 uur contact met u op.
X
We gebruiken cookies om u een betere browse-ervaring te bieden, het siteverkeer te analyseren en de inhoud te personaliseren. Door deze site te gebruiken, gaat u akkoord met ons gebruik van cookies.Privacybeleid
AfwijzenAccepteren